目前研究方向主要为：

          1）电子元器件、集成电路和微纳系统的辐照效应，特别是系统芯片（SoC）和系统级封装（SiP）的辐照效应；
          2）半导体材料的辐照效应，特别是SiC、GaN等新型半导体材料的辐照效应；
          3）核辐射测量。