课题组研究成果被集成电路设计顶级会议CICC 2026录用
- 发布时间:
- 2026-01-13
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- 课题组研究成果被集成电路设计顶级会议CICC 2026录用
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课题组完成的高线性度温度传感器芯片工作“A 1880μm2 Linear Temperature Sensor with Hybrid Sensing Front-end and Fractional Phase Detection FLL achieving -0.3/+0.28 °C Inaccuracy (3σ) after 1st-order Fitting and 37fJ·K2 Resolution FoM in 28nm CMOS”被2026年IEEE定制集成电路会议(CICC)录用。
针对业界先进处理器(XPU)中不断提升的功率密度,本工作提出一款兼具面积与能效优势的线性温度传感器,适用于大规模片上热管理场景。该传感器基于 28 纳米 CMOS 工艺流片,整体面积仅为 1880 平方微米,在 0.8 伏电源电压下的功耗为 8.2 微瓦。经一阶拟合校准后,单点校准的 3σ 测温误差为 -1.7/+1.6 °C,两点校准的 3σ 测温误差进一步降至 -0.3/+0.28 °C。本研究通过创新的片上线性度补偿方案,在不依赖高阶拟合的条件下实现了高精度测温,其分辨率优值(Resolution FoM)达到 37 飞焦・开尔文 ²,在基于频率锁定环路的同类传感器中,实现了面积与功耗开销的最小化。

本工作由课题组三年级博士研究生魏上杰完成,并得到国家自然科学基金的资助。
关于CICC:
IEEE定制集成电路会议(CICC)是集成电路设计领域世界顶级会议之一,由IEEE固态电路协会(Solid-State Circuits Society)主办。CICC以论文录用率低、研究成果创新性和实用性强著称,每年吸引全球范围内大量学术界、工业界研发人员的关注和参与。会议内容涉及模拟电路设计、生物医学、传感器、显示器和MEMS,数字和混合信号SoC/ASIC/SIP, 嵌入式存储器件等方面,重点讨论如何解决集成电路设计问题的方法,以提高芯片各项性能指标。




