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一种用于ZnO压敏电阻性能评价的无损检测方法
发布时间：2025-04-30
点击次数：
- 专利名称：
- 一种用于ZnO压敏电阻性能评价的无损检测方法
- 发明设计人：
- 李建英 赵学童 李盛涛
- 专利类型：
- 发明
- 申请号：
- ZL 2010 1 0566246.7
- 是否职务专利：
- 否
- 申请日期：
- 2010-11-30
- 发布时间：
- 2025-04-30
学历： 博士研究生毕业
学位： 博士
毕业院校： 西安交通大学
所属院系： 电工材料电气绝缘全国重点实验室
学科： 电气工程
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