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基于光学透明导电介质材料的电涡流探头及薄膜厚度测量系统和方法
发布时间：2025-04-30
点击次数：
- 专利名称：
- 基于光学透明导电介质材料的电涡流探头及薄膜厚度测量系统和方法
- 发明设计人：
- 贾书海、张国龙
- 专利类型：
- 发明
- 申请号：
- 202111668255.1
- 是否职务专利：
- 否
- 申请日期：
- 2022-01-02
- 发布时间：
- 2025-04-30
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