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刘志远

教授 博士生导师 硕士生导师

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  • 学历: 博士研究生毕业
  • 学位: 博士
  • 职称: 教授
  • 毕业院校: 西安交通大学
  • 学科: 电气工程

论文成果

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真空断路器容性电流开断及弧后重击穿现象

发布时间:2025-04-30
点击次数:
发布时间:
2025-04-30
论文名称:
真空断路器容性电流开断及弧后重击穿现象
发表刊物:
中国电工技术学会电气智能化系统及应用委员会论文集
摘要:
中压配电系统中真空断路器广泛应用于投切电容器组。关合过程中会产生高频率涌流,其预击穿
电弧会烧蚀触头表面并使触头发生熔焊;开断电容器组时,开断电流只有几百A,但是熔焊区会形成微
突起甚至于破裂,触头两端会承受容性恢复电压【厶(1一COScot),其峰值会达到2倍系统电压己厶(开
断单相电容器组),这使真空断路器弧后偶尔会发生重击穿,甚至于开断电流过零几百ms后会发生延
时重击穿现象。其原因与投切过程产生的高频涌流,开断电流,恢复电压密切相关。目前对击穿机理主
要有两种解释:场致发射引发重击穿和微粒导致重击穿。
合写作者:
杨和,孙丽琼,刘志远,耿英三
卷号:
2009年12月
页面范围:
34-40
是否译文:
发表时间:
2009-12-14