刘志远

Date:

2025-04-30

Title of Paper:

真空断路器容性电流开断及弧后重击穿现象

Journal:

中国电工技术学会电气智能化系统及应用委员会论文集

Summary:

中压配电系统中真空断路器广泛应用于投切电容器组。关合过程中会产生高频率涌流，其预击穿
电弧会烧蚀触头表面并使触头发生熔焊；开断电容器组时，开断电流只有几百A，但是熔焊区会形成微
突起甚至于破裂，触头两端会承受容性恢复电压【厶(1一COScot)，其峰值会达到2倍系统电压己厶(开
断单相电容器组)，这使真空断路器弧后偶尔会发生重击穿，甚至于开断电流过零几百ms后会发生延
时重击穿现象。其原因与投切过程产生的高频涌流，开断电流，恢复电压密切相关。目前对击穿机理主
要有两种解释：场致发射引发重击穿和微粒导致重击穿。

Co-author:

杨和，孙丽琼，刘志远，耿英三

Volume:

2009年12月

Page Number:

34-40

Translation or Not:

No

Date of Publication:

2009-12-14