基于四基站激光追踪系统的数控转台几何误差测量方法
点击次数:
发布时间:2025-04-30
专利名称:基于四基站激光追踪系统的数控转台几何误差测量方法
专利类型:发明
申请号:201910818811.5
是否职务专利:否
申请日期:2019-08-30
发布时间:2025-04-30
基于四基站激光追踪系统的数控转台几何误差测量方法
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专利名称:基于四基站激光追踪系统的数控转台几何误差测量方法
专利类型:发明
申请号:201910818811.5
是否职务专利:否
申请日期:2019-08-30
发布时间:2025-04-30