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成永红吴锴课题组赴美参加2017年CEIDP国际会议

发布时间:2017-11-09
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2017-11-09
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成永红吴锴课题组赴美参加2017年CEIDP国际会议
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        2017年10月22日-25日,成永红吴锴教授课题组师生一同前往美国德克萨斯州的沃斯堡(Fort Worth)参加了2017年CEIDP国际会议,参会的老师有成永红教授、吴锴教授和孟国栋老师,参会的博士生有陈思宇、毛佳乐和成传晖。该会议全称为 Conference on Electrical Insulation and Dielectric Phenomena, 是高电压与绝缘技术领域历史悠久的国际会议。来自包括日本、法国、加拿大、美国、中国在内的世界各国电气绝缘领域专家和学者围绕介电现象和测试展开学术交流。会议主题包括老化、生物电介质、室外绝缘、表面闪络、极化现象、测试技术、局部放电测量、能量存储和传输、高场效应、电树、预击穿和击穿现象和机理等。其中孟国栋老师和陈思宇博士生分别就微纳间隙放电的原位观察研究和环氧中电场取向氧化钛纳米纤维的原位观察研究做了海报展示,毛佳乐博士生就聚苯乙烯真空纳秒脉冲沿面闪络的仿真研究做了口头汇报。其中毛佳乐博士生的汇报受到了会议主持和绝缘领域权威专家的关注并进行了提问。 

   

 

       

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

       

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

        通过本次国际学术交流会,让我们了解了电气高压绝缘领域的最新研究动向,为我们提供了与国际同领域专家交流和讨论的平台,同时让我们感受到了美国的工业和科技文化。会后,参会师生向课题组的所有成员交流了参会心得,课题组此行收获颇丰。