专利名称：基于阵列激光源的结构表面裂纹红外无损检测及成像方法

发明设计人：裴翠祥，陈振茂，蔡文路，杨桂才

专利类型：发明

申请号：201410787271.6

是否职务专利：否

申请日期：2014-12-01

发布时间：2025-04-30