Personal profile
陈振茂，二级教授，中国西部质量科学技术研究院副院长。西安交通大学理学学士、工学硕士，东京大学工学博士。曾任日本JAEA博士研究员、庆应大学副教授、东北大学客座教授。兼任全国无损检测学会电磁技术大会主席，陕西省无损检测学会副理事长，NDT&E Int、IJAEM国际期刊副主编，多个系列国际会议IISC委员等。获国务院特殊津贴获得者，西安交通大学腾飞特聘教授。西安市侨联名誉主席。
发布时间：2025-04-30
论文名称：[51] Fast simulation of ECT signal due to a conductive crack of arbitrary width, Vol.42, 683-686
发表刊物：IEEE Trans. Mag.
摘要：Zhenmao Chen, M.Rebican, N.Yusa and K.Miya, Fast simulation of ECT signal due to a conductive crack of arbitrary width, IEEE Trans. Mag., Vol.42, 683-686, 2006, (030ZZ).
合写作者：Zhenmao Chen, M.Rebican, N.Yusa...
卷号：Vol.42, 683-686, 2006
是否译文：否
发表时间：2006-10-04
版权所有：西安交通大学 陕ICP备05001571号
